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山田光學(xué) yamada 高亮度鹵素落射照明裝置 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué)yamada-opt可見(jiàn)光鹵素同軸照明光源 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué)晶圓表面宏觀劃痕異物可見(jiàn)光檢查燈HPS-150 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13山田光學(xué)YAMADA KOGAKU 二向色鏡(冷鏡) YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13日本YAMADA KOGAKU KOGYO可見(jiàn)光鹵素光源 山田光學(xué) YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學(xué)工業(yè)YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板加工過(guò)程中的最終表面檢查環(huán)節(jié),用于輔助檢測(cè)表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時(shí)間:2026-04-13