HINDS Exicor 300AT 雙折射測量系統 | 基于PEM技術的高精度工業計量

更新時間：2026-04-02

瀏覽次數：46

返回列表

在高價值光學元件的制造與檢測領域，精度與效率是衡量檢測設備的核心標準。Hinds Instruments 推出的 Exicor 300AT 雙折射測量系統，憑借其獲獎的光彈性調制器（PEM）技術，重新定義了平行面光學元件的評估標準。這不僅是一臺測量儀器，更是下一代工業計量的生產力工具。

?? 核心技術：基于PEM的卓的越的性能

Exicor 300AT 的核心在于其采用了 Hinds Instruments 獨的家的 光彈性調制器（Photoelastic Modulator, PEM） 技術。與傳統的旋轉波片或偏振片測量方法不同，PEM 技術利用高頻調制光束的偏振態，配合先的進的檢測與解調電子技術，能夠以極的高的靈敏度捕捉光學元件對偏振態的微小改變。

這種技術路線帶來了以下顛的覆性的優勢：

極的高的測量靈敏度：能夠檢測到極其微弱的雙折射信號。
非接觸式測量：保護昂貴的光學表面不受損傷。
理論支撐：系統不僅能測量光學延遲（Retardation）和快軸取向，還能基于這些數據評估材料的理論殘余應力，為材料質量控制提供關鍵依據。

?? 硬核參數：為大尺寸與高精度而生

Exicor 300AT 專為工業生產環境設計，具備強大的物理承載能力和極的致的測量精度，是名副其實的“生產級工作馬"。

1. 寬廣的測量范圍與承載能力

該系統采用垂直光束軸設計，配備精密的 X、Y 樣品臺，能夠輕松容納大型光學元件。

關鍵指標	參數詳情
樣品臺行程	300mm × 300mm
最的大樣品高度	100mm
最的大承重	40kg
適用對象	直徑或邊長300mm內的平行面光學元件

2. 亞納米級的測量精度

在性能指標上，Exicor 300AT 展現了頂的尖的工業水準：

延遲測量范圍：0 至 300+ nm。
分辨率/重復性：高達 0.001 nm（在3nm以內重復性為 ±0.03 nm）。
測量精度：優于 ±0.2 nm。
角度分辨率：0.01°。
光源波長：632.8 nm（標準氦氖激光波長）。
光斑尺寸：標稱直徑 1mm，確保細節捕捉能力。

3. 極的致的測量速度

效率是工業生產的生命線。Exicor 300AT 的數據采集速率超過 每秒 100 點（不含運動時間），配合自動掃描功能，大幅縮短了檢測周期。

?? 智能化與可擴展性

標準配置：

系統搭載了專業的 Exicor ATS 軟件，操作界面友好，支持平行表面光學元件的全自動掃描。軟件能實時生成二維延遲圖和快軸取向圖，并提供詳盡的掃描統計數據。硬件方面，系統配備了 Windows 7 控制計算機、顯示器、狀態燈塔以及緊急停止按鈕，確保操作安全便捷。獨特的樣品臺前向裝載設計，增加了裝載樣品時的訪問空間，提升了操作體驗。

可選升級（Options）：
為了滿足不同客戶的極的致需求，系統提供了靈活的升級選項：

SIM（Scan In Motion）：實現掃描過程中移動，可縮短 50% 或更多的掃描時間，掃描速度最的高可達 100mm/s。
高分辨率模式：通過采用探測器面 0.2mm 針孔照明技術，顯著減小測量光斑尺寸，提高空間分辨率。
低光平探測器：針對透光率極低或微弱光信號的特殊檢測需求提供支持。

?? 結語

Exicor 300AT 不僅繼承了 Hinds Instruments 數十年在高靈敏度工業計量領域的經驗，更通過 PEM 技術將測量速度與精度提升到了新的高度。無論是學術研究還是工業生產，它都是評估大尺寸、高價值光學元件殘余應力與雙折射特性的理想選擇.。

久久婷婷五月综合色国产香蕉,久久久国产精华液,亚洲天天做日日做天天爽,性饥渴的老妇教我玩她

HINDS Exicor 300AT 雙折射測量系統 | 基于PEM技術的高精度工業計量

?? 核心技術：基于PEM的卓的越的性能

?? 硬核參數：為大尺寸與高精度而生

?? 智能化與可擴展性

?? 結語